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低對比度細節檢測模體是一種專門用于檢測X射線等設備在低對比度環境下性能的實驗工具。低對比度細節檢測模體的使用可以幫助醫療人員更好地理解影像設備的性能表現，進而更準確地判斷病情并制定出更有效的治療方案。
更新日期：2024-12-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
低對比度細節檢測模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統，CR系統(TO16);$n$n2.直徑250mm，厚度10mm;圓板中有12組不同細節點，每組中有12個不同直徑的細節點。144個細節點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條件下)。
更新日期：2023-11-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
產品簡介 十字嵌鉛刻度軟米尺(軟鉛尺) KR020 長30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。
更新日期：2024-12-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
德國IBA TYPE39c型 線對卡 主要用于測試X射線機的高分辨率。 量程：1.5-12LP/MM，組數14組。 鉛箔厚度為0.06mm, 尺寸為30X60mm.
更新日期：2023-11-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
雙絲像質計（德國）根據ISO19232-5/EN462-5/ASTM E2002標準生產，ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002雙絲像質計是由放置于剛性半透明塑料盒中的13個線對組成，雙絲像質計絲的直徑與絲與絲之間的距離相等，每個線對包含兩條圓形截面的線。1D至3D線對是金屬鎢，其它線對是金屬鉑。雙絲像質計用于確定射線照相和實時射線透照系統的幾何不清晰度。
更新日期：2023-11-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
雙絲像質計介紹 雙線像質計的樣式和主要尺寸如圖1所示, 基本結構包括:封裝板、13個絲對、識別標志號,各部分經粘結構成具有一定剛性的整體。金屬絲的材質為鉑和鎢。
更新日期：2023-11-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
JIMA（日本檢測儀器制造商協會）致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
更新日期：2023-11-24
產品型號：
廠商性質：經銷商
